简要描述:超声波测厚仪探头T-102-2000:美国达考特MX-5超声波测厚仪标准探头测量范围1.0~152mm,有多种探头可以选择,Z大可达508mm.显示精度:0.01mm,带报警功能、RS232接口以及差值方式
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美国达考特超声波测厚仪探头T-102-2000:美国达考特MX-5超声波测厚仪标准探头测量范围1.0~152mm,有多种探头可以选择,Z大可达508mm.显示精度:0.01mm,带报警功能、RS232接口以及差值方式。
型号:T-102-2000
频率:50MHZ
美国达考特超声波测厚仪探头T-102-2000探头晶片直径:6035mm
探头防磨面直径:9.53mm 测量范围:1.0-152mm
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
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